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OMD-1000Asahi-spectra朝日分光光學鍍膜測厚儀
Asahi-spectra朝日分光光學鍍膜測厚儀
這是一種光譜膜厚監測監測器，用于監測單色光氣相沉積過程中基板光強度的變化。 此外，還用于本公司的氣相沉積設備，作為氣相沉積部件制造商，在充滿專業知識的膜厚監測設備中完成。
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2024-12-02 - 02
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